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Rastersondenmikroskopie (SPM) ist eine Technik zum Erkunden und Scannen der Oberfläche eines Objekts auf atomarer Skala mit einer Nadel. Die Technik wurde nach der Erfindung von . entwickelt Rastertunnelmikroskopie 1981. SPM hat einige wesentliche Vorteile gegenüber advantages Elektronenmikroskope:

• Die Zubereitung muss nicht elektrisch leitfähig sein;
• kein Hochvakuum erforderlich;
• Präparate können sogar "unter" einer Flüssigkeit untersucht werden;
• die Kosten sind erheblich niedriger als die eines Elektronenmikroskops.

Mit dieser Technik können je nach verwendeter Sonde unterschiedliche Materialeigenschaften visualisiert werden.

Einige bekannte SPM-Techniken sind:

• Rasterkraftmikroskopie (AFM), wo die Van-der-Waals-Kräfte registriert werden;
• Magnetkraftmikroskopie (MFM), Aufzeichnung der magnetischen Feldkräfte;
• Rastertunnelmikroskopie (STM), Aufzeichnung des Flusses von Tunnelelektronen;
• Elektrostatische Kraftmikroskopie (EFM), Aufzeichnung der elektrostatischen Feldkräfte;
• Querkraftmikroskopie (LFM);
• Rasterkapazitätsmikroskopie (SCM), Aufzeichnen der elektrostatischen Kapazität;
• Rasterionenleitfähigkeitsmikroskopie (SICM), bei dem eine Elektrode als Nadel verwendet wird